TXRF全反射Ｘ射线萤光光谱仪简介

全反射X射线萤光光谱仪 (Total Reflection X-Ray Fluorescence, TXRF) 是基于 EDXRF 的一种光谱侦测技术。相较于 EDXRF，TXRF 主要的不同之处，是X光束照射样品的角度。EDXRF 的X光束，是以45°角照射样品，而 TXRF 则是以几个毫弧度(mrad) 的掠射角 (grazing angle) 照射样品。

由于这种几乎与样品表面平行的X光掠射，让X光束被完全反射，可避免基材的吸收X光，并大幅降低散射程度，因而降低背景杂讯。此外，TXRF 只需要一小滴溶解于溶剂中的样品 (5-100μL)，便可以进行量测。被滴在有机玻璃基板上的样品，待溶剂挥发后，只残留几奈米厚的样品在基板上。

TXRF 与传统 EDXRF 的差异

由于在微量的残余溶剂或样品薄膜上，不易因为散射 (瑞利散射或康普敦散射)造成基质效应。因此在TXRF的测量中，样品或基质所产生的散射，能够大幅度地被消除。

基于以上的特性，TXRF 全反射式光谱仪，特别适合微量元素的测定。加上 TXRF 具有经济、相对简单的样品前处理、同步侦测原子序高于11的元素、ppb等级的侦测极限，目前 TXRF 已经被广泛地应用于环境相关研究，如植物，土壤，空气，水质。TXRF 全反射式光谱仪，也是一种对固体、液体、粉末、合金材质，进行非破坏性检测的高效率仪器。

综合以上特性，可归纳 TXRF 的优点如下：

 

• 无基质效应
• 只需要单一个内部标准品进行定量分析
• 任何基质都不影响定量操作
• 可同步进行多元素的痕量分析
• 适合多种样品材质、形式
• 所需的样品量很小 (最多五毫升)
• 对固体与液体的微分析应用
• 从纳元素到钸元素都有极佳的侦测极限 (ppb或pg等级)
• 极佳的动态范围，从 ppt 一直到 %
• 无记忆效应
• 非破坏性检测
• 营运成本低