ATR FTIR 能夠穿透樣品的深度？

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發佈：2024-07-09, 週二

ATR-FTIR光譜是一種強大的分析工具，可提供有關材料表面化學組成和結構的詳細資訊。其原理是利用全反射現象，使紅外光在高折射率晶體（如鑽石、鍺）和樣品之間多次反射，產生倏逝波（Evanescent Wave）穿透樣品表面。

由於倏逝波的穿透深度非常淺，通常只有幾微米 (µm)，因此 ATR-FTIR 光譜特別適合分析薄膜、塗層和材料的表面層。

ATR-FTIR光譜的優點

• 無需大量樣品製備：由於 ATR 僅需檢測樣品的淺層區域，因此無需進行繁複的樣品製備步驟，例如切片、研磨或溶解，這對於難以製備或破壞性樣品分析非常有利。

• 分析異質樣本：ATR 可以提供有關不同區域或層的局部資訊，因此非常適合分析具有不同組成或結構的異質樣本。

• 高靈敏度：由於倏逝波與樣品表面緊密相互作用，因此 ATR-FTIR 光譜可以獲得高靈敏度的訊號，即使是痕量的表面成分也能被檢測到。

• 有限的穿透深度：ATR 的穿透深度非常淺，只有幾個µm，因此對於位於樣品內部較深處的成分，ATR 測量可能無法提供準確的資訊。

• 訊號強度受穿透深度影響：穿透深度越深，由於樣品內的吸收和散射過程，紅外訊號變得越弱，這可能會影響光譜的比較或定量分析。

ATR-FTIR 光譜是一種功能強大的分析技術，可提供有關材料表面化學組成和結構的寶貴資訊。其淺採樣深度和高靈敏度使其成為分析薄膜、塗層和異質樣本的理想選擇。然而，在使用 ATR-FTIR 光譜時，也需要注意有限的穿透深度可能帶來的影響。