ATR FTIR 能夠穿透樣品的深度?
發佈:2024-07-09, 週二
ATR-FTIR光譜是一種強大的分析工具,可提供有關材料表面化學組成和結構的詳細資訊。其原理是利用全反射現象,使紅外光在高折射率晶體(如鑽石、鍺)和樣品之間多次反射,產生倏逝波(Evanescent Wave)穿透樣品表面。
由於倏逝波的穿透深度非常淺,通常只有幾微米 (µm),因此 ATR-FTIR 光譜特別適合分析薄膜、塗層和材料的表面層。
ATR-FTIR光譜的優點
• 無需大量樣品製備:由於 ATR 僅需檢測樣品的淺層區域,因此無需進行繁複的樣品製備步驟,例如切片、研磨或溶解,這對於難以製備或破壞性樣品分析非常有利。
• 分析異質樣本:ATR 可以提供有關不同區域或層的局部資訊,因此非常適合分析具有不同組成或結構的異質樣本。
• 高靈敏度:由於倏逝波與樣品表面緊密相互作用,因此 ATR-FTIR 光譜可以獲得高靈敏度的訊號,即使是痕量的表面成分也能被檢測到。
ATR-FTIR光譜的限制
• 有限的穿透深度:ATR 的穿透深度非常淺,只有幾個µm,因此對於位於樣品內部較深處的成分,ATR 測量可能無法提供準確的資訊。
• 訊號強度受穿透深度影響:穿透深度越深,由於樣品內的吸收和散射過程,紅外訊號變得越弱,這可能會影響光譜的比較或定量分析。
結論
ATR-FTIR 光譜是一種功能強大的分析技術,可提供有關材料表面化學組成和結構的寶貴資訊。其淺採樣深度和高靈敏度使其成為分析薄膜、塗層和異質樣本的理想選擇。然而,在使用 ATR-FTIR 光譜時,也需要注意有限的穿透深度可能帶來的影響。