界達電位Zeta Potential原理?爲什麼重要?

界達電位原理
界達電位(Zeta Potential)是用來描述奈米級膠體微粒,在其滑動面 (Slipping Plane) 上的電位,通常以毫伏特 (mV) 為單位表示。由於膠體微粒的滑動面,是微粒跟溶液分開的交界,測量界達電位的高低,可以得知微粒滑動面離微粒表面的距離,這個距離構成電雙層(Electric Double Layer)的厚度,也就是微粒到溶液正負兩層離子交界面的厚度,進而得知膠體溶液的特性與穩定性。
材料熱安全性測試方法

熱安全性測試一直是材料研發過程中,重要的一環。當今的電子產品,尤其講究輕薄短小、以及更長的續航力,儲能設備(電池、化學燃料)的能量密度越來越高,若遭遇熱失控燃燒的狀況,往往對身體居住環境造成一定程度危害。加上消費者意識抬頭的今天,製造商往往需要負擔連帶責任、甚至鉅額的賠償,對於產品的安全性,不得不小心為之。
絕熱加速失控分析量熱儀 (ARC),是用來分析材料或成品熱失控條件的專用儀器,與一般量熱儀不同的是,它能夠在絕熱環境中,分段控制加熱的能量多寡,並精密地感測過程中,樣品在該溫度區間的昇溫變化,用以判斷樣品在該溫度區間,是否已經開始進入熱失控的狀態。
熱分析儀應用於食品原料特性分析

水分、以及其他存在於食材 (奶、蛋、肉類、蔬菜、穀物)中的天然化合物,通常對加熱過程有一定的敏感度。加熱這些食品原料,通常會改變這些原料的物理特性、微生物特性、以及感官風味。了解食材在食品加工熱處理過程中的「溫度-時間」變化,將有助於在食品加工、儲存處理過程中,採用加熱或冷卻程序,來保持食品成品的物理穩定性,並研發出長期保存食材新鮮度與安全性的方法。比方延遲牛油的氧化速度、阻止麵包中的澱粉變質、避免巧克力產生油斑、或是醬汁中的固液相分離情形。
這些都是食品工程研究人員專注的研究領域,透過示差掃描量熱儀 (DSC) 的協助,從非平衡反應 (non-equilibriium reactions)、或不明化學分子交互作用的熱動力學角度,來了解食品原料的特性。
白光反射光譜法簡介

白光反射光譜法(White Light Reflectance Spectroscopy, WLRS)是一種觀測寬帶光束 (可見光,可見光/近紅外光),在塗佈待測物的基板 (Substrate) 表面反射後,因不同深度造成相位差,而產生的光譜干涉條紋。與典型反射干涉光譜法 (Reflectometric Interference Spectroscopy, RIfS) 的差異在於,WLRS 底部是用矽基板 (Si Substrate),而不是透明基板,成本較傳統方式也更低。
基於上述理由,白光反射光譜法 WLRS 更適合當今主流的微電子處理 (Microelectronic Processes)相關應用,用來測量表面塗層、沈積層薄膜的厚度。如,微流體生物晶片,半導體、光電產業的相關製程的膜厚測量應用。而且,WLRS方法,可以在無須移動光學組件的狀況下,進行多層、多樣品的即時分析。更重要的是,測量的條件,不會因此增加儀器的複雜性與設置成本。