界達電位Zeta Potential原理？爲什麼重要？
界達電位原理
界達電位(Zeta Potential)是用來描述奈米級膠體微粒，在其滑動面 (Slipping Plane) 上的電位，通常以毫伏特 (mV) 為單位表示。由於膠體微粒的滑動面，是微粒跟溶液分開的交界，測量界達電位的高低，可以得知微粒滑動面離微粒表面的距離，這個距離構成電雙層(Electric Double Layer)的厚度，也就是微粒到溶液正負兩層離子交界面的厚度，進而得知膠體溶液的特性與穩定性。
材料熱安全性測試方法
熱安全性測試一直是材料研發過程中，重要的一環。當今的電子產品，尤其講究輕薄短小、以及更長的續航力，儲能設備（電池、化學燃料）的能量密度越來越高，若遭遇熱失控燃燒的狀況，往往對身體居住環境造成一定程度危害。加上消費者意識抬頭的今天，製造商往往需要負擔連帶責任、甚至鉅額的賠償，對於產品的安全性，不得不小心為之。
絕熱加速失控分析量熱儀 (ARC)，是用來分析材料或成品熱失控條件的專用儀器，與一般量熱儀不同的是，它能夠在絕熱環境中，分段控制加熱的能量多寡，並精密地感測過程中，樣品在該溫度區間的昇溫變化，用以判斷樣品在該溫度區間，是否已經開始進入熱失控的狀態。
熱分析儀應用於食品原料特性分析
水分、以及其他存在於食材 (奶、蛋、肉類、蔬菜、穀物)中的天然化合物，通常對加熱過程有一定的敏感度。加熱這些食品原料，通常會改變這些原料的物理特性、微生物特性、以及感官風味。了解食材在食品加工熱處理過程中的「溫度-時間」變化，將有助於在食品加工、儲存處理過程中，採用加熱或冷卻程序，來保持食品成品的物理穩定性，並研發出長期保存食材新鮮度與安全性的方法。比方延遲牛油的氧化速度、阻止麵包中的澱粉變質、避免巧克力產生油斑、或是醬汁中的固液相分離情形。
這些都是食品工程研究人員專注的研究領域，透過示差掃描量熱儀 (DSC) 的協助，從非平衡反應 (non-equilibriium reactions)、或不明化學分子交互作用的熱動力學角度，來了解食品原料的特性。
白光反射光譜法簡介
白光反射光譜法（White Light Reflectance Spectroscopy, WLRS）是一種觀測寬帶光束 (可見光，可見光/近紅外光)，在塗佈待測物的基板 (Substrate) 表面反射後，因不同深度造成相位差，而產生的光譜干涉條紋。與典型反射干涉光譜法 (Reflectometric Interference Spectroscopy, RIfS) 的差異在於，WLRS 底部是用矽基板 (Si Substrate)，而不是透明基板，成本較傳統方式也更低。
基於上述理由，白光反射光譜法 WLRS 更適合當今主流的微電子處理 (Microelectronic Processes)相關應用，用來測量表面塗層、沈積層薄膜的厚度。如，微流體生物晶片，半導體、光電產業的相關製程的膜厚測量應用。而且，WLRS方法，可以在無須移動光學組件的狀況下，進行多層、多樣品的即時分析。更重要的是，測量的條件，不會因此增加儀器的複雜性與設置成本。