拉曼光譜儀用在半導體的應用有哪些?

發佈:2018-05-31, 週四
Semiconductor Wafer

半導體產業,拉曼光譜儀能夠協助業者研究半導體材料的基本特性。包含單一元素的半導體,如(Si)、(Ge),以及多成份組成的半導體,如鎵砷(GaAs)半導體。在材料製造階段,這些半導體材料的特性,將決定接下來晶圓製造、IC封裝這些製程的品質,本階段是最為重要的步驟。

由於這些材料(包含石墨烯)根據其不同的組成與結構,具有不同的拉曼光譜帶。半導體材料的組成,可以透過拉曼光譜儀的進行定量分析,以測量半導體中鍺元素濃度。同時也可以利用拉曼光譜儀,測量結晶度,以及材料的應變應力

在晶圓製造的過程中,使用拉曼光譜儀作為製程分析與品質控管的工具,將有利於提高產品的品質,提高良率進而提高整體產量。

目前拉曼光譜儀在半導體產業常見的應用包括:

  • 材料純度
  • 污染物鑑定
  • 合金成份
  • 超晶格結構
  • 本質應力&應變的特性因素
  • 缺陷分析
  • 半導體異質結構
  • 異質接面的摻雜效應
  • 光致螢光的顯微分析