拉曼光譜儀用在半導體的應用有哪些?
發佈:2018-05-31, 週四
在半導體產業,拉曼光譜儀能夠協助業者研究半導體材料的基本特性。包含單一元素的半導體,如矽(Si)、鍺(Ge),以及多成份組成的半導體,如鎵砷(GaAs)半導體。在材料製造階段,這些半導體材料的特性,將決定接下來晶圓製造、IC封裝這些製程的品質,本階段是最為重要的步驟。
由於這些材料(包含石墨烯)根據其不同的組成與結構,具有不同的拉曼光譜帶。半導體材料的組成,可以透過拉曼光譜儀的進行定量分析,以測量半導體中鍺元素的濃度。同時也可以利用拉曼光譜儀,測量結晶度,以及材料的應變與應力。
在晶圓製造的過程中,使用拉曼光譜儀作為製程分析與品質控管的工具,將有利於提高產品的品質,提高良率進而提高整體產量。
目前拉曼光譜儀在半導體產業常見的應用包括:
- 材料純度
- 污染物鑑定
- 合金成份
- 超晶格結構
- 本質應力&應變的特性因素
- 缺陷分析
- 半導體異質結構
- 異質接面的摻雜效應
- 光致螢光的顯微分析