勢動科技引進最新TXRF全反射螢光光譜儀！
發佈：2020-11-30, 週一
全反射Ｘ射線螢光光譜儀 (TXRF, Total Reflection X-Ray Fluorescence)，是一種基於能量色散螢光光譜儀 (EDXRF, Energy Dispersive X-ray Fluorenscence) 的光譜技術。它特別適合用於偵測樣品中的微量元素，而且不需要繁瑣的前處理過程，也幾乎沒有甚麼維護成本 (不需要昂貴的氣體，也沒有昂貴的管線、耗材)。非常適合一般研究，或商業實驗室使用。
TXRF 是將Ｘ光源以極低的掠角 (grazing angle) 照射樣品，並在垂直的方向，偵測激發後的螢光能量，而不直接偵測反射光的能量。這種全反射式的測量方式，可大幅降低散射與背景雜訊，而且只需要微量的樣品 (5µL - 100µL)，便可偵測 ppb 等級的微量元素成分，而且不受基質干擾。
GNR金屬分析分光儀（直讀光譜儀）
發佈：2016-04-17, 週日
火花放電分光儀，也稱為火花放電直讀光譜儀，它是利用電極產生火花放電，以高能量將金屬原子的外層電子，躍遷到下一能階。當電子返回原能階時，釋放出電磁輻射，便能量測其光譜，並判斷金屬中的元素成分。勢動科技代理的 GNR 分光儀產品，總和各機型，可測量 120 nm 到 900 nm 波長範圍內的特徵光譜線，可分析所有合金及其內含元素，同時可識別金屬牌號 (UNI, ISO, DIN, EN, ASTM, JIS, BS)。勢動科技提供您功能、種類最齊全的分光儀產品線。並且包含桌上型、落地型、移動型，三類不同形式的機型，適合各種用途的金屬產品檢測與重複性的品管驗證工作。