勢動科技引進最新TXRF全反射螢光光譜儀!

發佈:2020-11-30, 週一

全反射X射線螢光光譜儀 (TXRF, Total Reflection X-Ray Fluorescence),是一種基於能量色散螢光光譜儀 (EDXRF, Energy Dispersive X-ray Fluorenscence) 的光譜技術。它特別適合用於偵測樣品中的微量元素,而且不需要繁瑣的前處理過程,也幾乎沒有甚麼維護成本 (不需要昂貴的氣體,也沒有昂貴的管線、耗材)。非常適合一般研究,或商業實驗室使用。

TXRF 是將X光源以極低的掠角 (grazing angle) 照射樣品,並在垂直的方向,偵測激發後的螢光能量,而不直接偵測反射光的能量。這種全反射式的測量方式,可大幅降低散射與背景雜訊,而且只需要微量的樣品 (5µL - 100µL),便可偵測 ppb 等級的微量元素成分,而且不受基質干擾。

TXRF 常被拿來與原子吸收光譜法 (Atomic Absorption Spectroscopy, AAS),以及感應耦合電漿光譜法 (Inductively Coupled Plasma Spectroscopy, ICP) 相較。過去,由於 EDXRF 的價位較高,雖然 TXRF 的技術已存在多年,卻無法普及。但近年來,隨著X光主要零組件的技術突破,成本降低,TXRF 逐漸成為化學分析的利器。

GNR 最新推出的 TX2000 TXRF 全反射式螢光光譜儀,結合 TXRF 與 EDXRF 兩種技術於一部儀器中,它利用步進馬達與光學尺,全自動精密調整X光源的照射角度,讓使用者能夠在 TX2000 上,執行 EDXRF 或 TXRF 量測,一部儀器當兩部用。TX2000還配備了12+1 座樣品槽 (其中一個做為 EDXRF 專用),可讓您一次自動量測夠多的樣品。

GNR TXRF TX2000
GNR TXRF TX2000

更棒的是,TX2000 採用先進的鉬鎢雙陽極X光管,是一種雙靶材光源,儀器可自動切換鉬靶及鎢靶兩種X光源 (MoKα, WLα / WLβ 33keV 制動輻射),可同時兼顧輕元素的偵測效率,以及高能量螢光的元素,並更精確測定鉛、汞元素。

相較於其他廠牌舊型的 TXRF,TX2000 具備更好的解析度,因為它採用高階的電子致冷式 SDD 偵測器,解析度可達 124eV (FWHM@MnKα),並且讓偵測器能夠最大限度貼近樣品。超過50項的元素,其偵測極限可小於 10pg,若搭配氦氣套件,可偵測輕元素。

在軟體方面,TX2000 所搭配的 TXRFACQ32 套裝軟體,可設定光源強度,並可對多組樣品,設定不同的參數,選擇光源靶材、光譜方法 (TXRF 或 EDXRF),相關光學參數等。此外,使用者也可透過 EDXRF32 分析軟體對光譜資料進行各種計算分析 (如,最小平方法)、自動/手動特徵峰值搜尋、自動/手動能量校正、內標定量分析、以及多種背景校正功能。TX2000的軟體,集合各家優點,為的是讓使用者能夠更直覺地進行量測,並能 100% 操控 TX2000 各項強大的硬體功能。

欲知道更多 TX2000 的優越性能與規格,請連結 TX2000產品頁

■ GNR是歐洲專精於火花直讀光譜儀(分光儀)、螢光光譜儀、繞射儀的專業製造商,25年來,產品行銷全球,廣為客戶好評。