FAQ XRF Spectroscopy
X射線螢光光譜儀 (XRF) 的組成？
X射線螢光光譜儀 (XRF) 是一種非破壞性的元素分析儀器，可透過高能量 X 射線照射樣品，激發樣品中的原子並產生特徵 X 射線，再利用這些特徵 X 射線來分析樣品中的元素成分和含量。XRF 螢光光譜儀廣泛應用於地質勘探、金屬冶煉、工業品檢測、環境監測、考古文物鑑定等領域。
目前市面上常見的 XRF 螢光光譜儀，無論是桌上型還是手持式，通常包含以下四種主要元件：
1. X 光發射管
X 光發射管是 XRF 螢光光譜儀的核心部件，負責產生高能量 X 射線。X 光發射管的工作原理是利用高電壓加速電子撞擊陽極靶材，例如銠 (Rh)、銀 (Ag)、鉻 (Cr)、鉬 (Mo)、鎢 (W) 等，使原子內層電子被擊出，產生空穴。為填補空穴，外層電子躍遷到內層，並釋放出能量以 X 射線的形式發射出來。
X 光發射管的性能對 XRF 螢光光譜儀的分析精度和靈敏度有重要影響。常見的 X 光發射管類型包括：
- 端窗口 X 光發射管：結構簡單，成本較低，但 X 射線強度較弱。
- 側窗口 X 光發射管：X 射線強度較高，但易受污染。
- 零窗口 X 光發射管：X 射線強度高，且不易受污染，但成本較高。
XRF螢光光譜儀的X光管有哪些規格？
X光射線管是一種能夠產生X光的裝置。XRF螢光光譜儀，便是利用X射線較強的穿透能力，照射到待測物的表面，將其激發出螢光，來檢測待測物的內含元素種類。
X光射線管，是XRF儀器中不可或缺的主要組件，也是主要的耗材。若您打算為您的實驗購置一部XRF螢光光譜儀，您必須要認識一下X光射線管。
XRF分析元素的原理為何？
原子中的電子可以透過吸收X光的能量，躍遷出原來的軌道，而這個能量必須大於該電子被原子核綁定在原軌道上的能量。當此內殼層軌道上的電子躍遷出去後，位於外殼層軌道，能量較高的電子，將填補這個空缺，並釋放出以光子形式存在的能量（放出螢光），而且放出的這個能量，正好等於兩個殼層之間的能量差。
這種因為電子躍遷而放出的螢光，我們稱為元素的特徵X光（此螢光也是種X光）。而且在某兩相鄰軌道間，電子躍遷放出的能量是恆定的，因此只要量測出這個螢光的值，就能夠辨識特定的元素，這就是X射線螢光光譜儀 (XRF) 的基本原理。
XRF光譜儀原理
再者，元素放出某特定能量的螢光，其單位時間的光子數量跟樣品中的待測物質相關。通常，X射線螢光光譜儀 (XRF) 以峰值強度或者計數來表示這個值。而這個結果，會呈現在特徵X光的譜線上，每種元素都有其所屬的峰值；而且這些螢光譜線，都會呈現類似高斯分佈的形狀，原因是目前的感測器的解析度還不夠完美。
因此，觀測這些峰值，以及各個元素峰值的數量，我們就能得到某個樣品的元素組成，並進一步透過計量，瞭解這些元素在樣品中的濃度比例，進一步瞭解整個樣品的組成。
什麼是XRF光譜儀？
XRF光譜法，是”X-Ray Fluorescence Spectroscopy” 的縮寫，中文稱為 「X射線螢光光譜法」或是「X光螢光光譜法」。X射線螢光光譜儀是一般常規的X光機，是一種非破壞性化學分析儀器，用於檢測岩石、礦物、沉積物、金屬和用來做流體分析。它的工作原理類似於「電子微探分析儀(EPMA, Eelectron Probe Mmicroanalyzer)」的波長色散分光原理。
然而，X射線螢光光譜儀一般不能用於一般EPMA可以執行的小尺寸分析（2-5 microns）。因此它通常被用於體積較大的地質材料分析。由於它的樣品前處理相對簡單，而成本低廉，檢測結果穩定，因此X射線螢光光譜儀可以被廣泛用於分析岩石，礦物，和沉積物中的微量元素，或者金屬成分成分。
TXRF需不需要繁瑣的校正流程？
嚴格來說，TXRF 是不需要校正的。GNR 的 TX 2000 TXRF 光譜儀，在出廠前已經執行過精密嚴謹的儀器校正流程。對於日常的分析，TXRF 是透過內標物質，來進行其他未知物質的定量分析。TXRF 常用的內標物是鎵元素 (Gallium)。
也就是說，一般儀器的飄移誤差，對於TXRF 的量測結果不會有影響。
勢動科技提供 SPEX CertiPrep 保證級的鎵元素內標準品，型號PLGA2-2Y。本產品是 125ml 包裝，是 TXRF 必備的標準品。
SPEX CertiPerp 的標準品，都基於 ISO 9001, ISO 17025, ISO Guide 34 的嚴格品管認證，能夠提供標準品純度的認證。