势动科技引进最新TXRF全反射萤光光谱仪！
全反射Ｘ射线萤光光谱仪 (TXRF, Total Reflection X-Ray Fluorescence)，是一种基于能量色散萤光光谱仪 (EDXRF, Energy Dispersive X-ray Fluorenscence) 的光谱技术。它特别适合用于侦测样品中的微量元素，而且不需要繁琐的前处理过程，也几乎没有什么维护成本 (不需要昂贵的气体，也没有昂贵的管线、耗材)。非常适合一般研究，或商业实验室使用。
TXRF 是将Ｘ光源以极低的掠角 (grazing angle) 照射样品，并在垂直的方向，侦测激发后的萤光能量，而不直接侦测反射光的能量。这种全反射式的测量方式，可大幅降低散射与背景杂讯，而且只需要微量的样品 (5μL - 100μL)，便可侦测 ppb 等级的微量元素成分，而且不受基质干扰。
TXRF 常被拿来与原子吸收光谱法 (Atomic Absorption Spectroscopy, AAS)，以及感应耦合电浆光谱法 (Inductively Coupled Plasma Spectroscopy, ICP) 相较。过去，由于 EDXRF 的价位较高，虽然 TXRF 的技术已存在多年，却无法普及。但近年来，随着Ｘ光主要零组件的技术突破，成本降低，TXRF 逐渐成为化学分析的利器。
GNR 最新推出的 TX2000 TXRF 全反射式萤光光谱仪，结合 TXRF 与 EDXRF 两种技术于一部仪器中，它利用步进马达与光学尺，全自动精密调整X光源的照射角度，让使用者能够在 TX2000 上，执行 EDXRF 或 TXRF 量测，一部仪器当两部用。TX2000还配备了12+1 座样品槽 (其中一个做为 EDXRF 专用)，可让您一次自动量测够多的样品。
更棒的是，TX2000 采用先进的钼钨双阳极Ｘ光管，是一种双靶材光源，仪器可自动切换钼靶及钨靶两种X光源 (MoKα, WLα / WLβ 33keV 制动辐射)，可同时兼顾轻元素的侦测效率，以及高能量萤光的元素，并更精确测定铅、汞元素。
相较于其他厂牌旧型的 TXRF，TX2000 具备更好的解析度，因为它采用高阶的电子致冷式 SDD 侦测器，解析度可达 124eV (FWHM@MnKα)，并且让侦测器能够最大限度贴近样品。超过50项的元素，其侦测极限可小于 10pg，若搭配氦气套件，可侦测轻元素。
在软体方面，TX2000 所搭配的 TXRFACQ32 套装软体，可设定光源强度，并可对多组样品，设定不同的参数，选择光源靶材、光谱方法 (TXRF 或 EDXRF)，相关光学参数等。此外，使用者也可透过 EDXRF32 分析软体对光谱资料进行各种计算分析 (如，最小平方法)、自动/手动特征峰值搜寻、自动/手动能量校正、内标定量分析、以及多种背景校正功能。TX2000的软体，集合各家优点，为的是让使用者能够更直觉地进行量测，并能 100% 操控 TX2000 各项强大的硬体功能。
GNR是欧洲专精于火花直读光谱仪(分光仪)、萤光光谱仪、绕射仪的专业制造商，25年来，产品行销全球，广为客户好评。
欲知道更多 TX2000 的优越性能与规格，请连结 TX2000产品页。