X射线萤光光谱仪 (XRF) 的组成？
X射线萤光光谱仪 (XRF) 是一种非破坏性的元素分析仪器，可透过高能量 X 射线照射样品，激发样品中的原子并产生特征 X 射线，再利用这些特征 X 射线来分析样品中的元素成分和含量。XRF 萤光光谱仪广泛应用于地质勘探、金属冶炼、工业品检测、环境监测、考古文物鉴定等领域。
目前市面上常见的 XRF 萤光光谱仪，无论是桌上型还是手持式，通常包含以下四种主要元件：
1. X 光发射管
X 光发射管是 XRF 萤光光谱仪的核心部件，负责产生高能量 X 射线。X 光发射管的工作原理是利用高电压加速电子撞击阳极靶材，例如铑 (Rh)、银 (Ag)、铬 (Cr)、钼 (Mo)、钨 (W) 等，使原子内层电子被击出，产生空穴。为填补空穴，外层电子跃迁到内层，并释放出能量以 X 射线的形式发射出来。
X 光发射管的性能对 XRF 萤光光谱仪的分析精度和灵敏度有重要影响。常见的 X 光发射管类型包括：
- 端窗口 X 光发射管：结构简单，成本较低，但 X 射线强度较弱。
- 侧窗口 X 光发射管：X 射线强度较高，但易受污染。
- 零窗口 X 光发射管：X 射线强度高，且不易受污染，但成本较高。
XRF萤光光谱仪的X光管有哪些规格？
X光射线管是一种能够产生X光的装置。XRF萤光光谱仪，便是利用X射线较强的穿透能力，照射到待测物的表面，将其激发出萤光，来检测待测物的内含元素种类。
X光射线管，是XRF仪器中不可或缺的主要组件，也是主要的耗材。若您打算为您的实验购置一部XRF萤光光谱仪，您必须要认识一下X光射线管。
XRF分析元素的原理为何？
原子中的电子可以透过吸收X光的能量，跃迁出原来的轨道，而这个能量必须大于该电子被原子核绑定在原轨道上的能量。当此内壳层轨道上的电子跃迁出去后，位于外壳层轨道，能量较高的电子，将填补这个空缺，并释放出以光子形式存在的能量（放出萤光），而且放出的这个能量，正好等于两个壳层之间的能量差。
这种因为电子跃迁而放出的萤光，我们称为元素的特征X光（此萤光也是种X光）。而且在某两相邻轨道间，电子跃迁放出的能量是恒定的，因此只要量测出这个萤光的值，就能够辨识特定的元素，这就是X射线萤光光谱仪 (XRF) 的基本原理。
XRF 光谱仪原理
再者，元素放出某特定能量的萤光，其单位时间的光子数量跟样品中的待测物质相关。通常，X射线萤光光谱仪 (XRF) 以峰值强度或者计数率来表示这个值。而这个结果，会呈现在特征X光的谱线上，每种元素都有其所属的峰值；而且这些萤光谱线，都会呈现类似高斯分布的形状，原因是目前的感测器的解析度还不够完美。
因此，观测这些峰值，以及各个元素峰值的数量，我们就能得到某个样品的元素组成，并进一步透过计量，了解这些元素在样品中的浓度比例，进一步了解整个样品的组成。
什么是XRF光谱仪？
XRF光谱法，是”X-Ray Fluorescence Spectroscopy” 的缩写，中文称为 “X射线萤光光谱法”或是“X光萤光光谱法”。X射线萤光光谱仪是一般常规的X光机，是一种非破坏性化学分析仪器，用于检测岩石、矿物、沉积物、金属和用来做流体分析。它的工作原理类似于“电子微探分析仪(EPMA, Eelectron Probe Mmicroanalyzer)”的波长色散分光原理。
然而，X射线萤光光谱仪一般不能用于一般EPMA可以执行的小尺寸分析（2-5 microns）。因此它通常被用于体积较大的地质材料分析。由于它的样品前处理相对简单，而成本低廉，检测结果稳定，因此X射线萤光光谱仪可以被广泛用于分析岩石，矿物，和沉积物中的微量元素，或者金属成分成分。
TXRF需不需要繁琐的校正流程？
严格来说，TXRF 是不需要校正的。GNR 的 TX 2000 TXRF 光谱仪，在出厂前已经执行过精密严谨的仪器校正流程。对于日常的分析，TXRF 是透过内标物质，来进行其他未知物质的定量分析。TXRF 常用的内标物是镓元素 (Gallium)。
也就是说，一般仪器的飘移误差，对于TXRF 的量测结果不会有影响。
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