XRF分析元素的原理为何？
发布于 2014-09-23 22:35
原子中的电子可以透过吸收X光的能量，跃迁出原来的轨道，而这个能量必须大于该电子被原子核绑定在原轨道上的能量。当此内壳层轨道上的电子跃迁出去后，位于外壳层轨道，能量较高的电子，将填补这个空缺，并释放出以光子形式存在的能量（放出萤光），而且放出的这个能量，正好等于两个壳层之间的能量差。
这种因为电子跃迁而放出的萤光，我们称为元素的特征X光（此萤光也是种X光）。而且在某两相邻轨道间，电子跃迁放出的能量是恒定的，因此只要量测出这个萤光的值，就能够辨识特定的元素，这就是X射线萤光光谱仪 (XRF) 的基本原理。
XRF 光谱仪原理
再者，元素放出某特定能量的萤光，其单位时间的光子数量跟样品中的待测物质相关。通常，X射线萤光光谱仪 (XRF) 以峰值强度或者计数率来表示这个值。而这个结果，会呈现在特征X光的谱线上，每种元素都有其所属的峰值；而且这些萤光谱线，都会呈现类似高斯分布的形状，原因是目前的感测器的解析度还不够完美。
因此，观测这些峰值，以及各个元素峰值的数量，我们就能得到某个样品的元素组成，并进一步透过计量，了解这些元素在样品中的浓度比例，进一步了解整个样品的组成。