ATR FTIR 能够穿透样品的深度？
发布于 2024-07-09 16:00
ATR-FTIR光谱是一种强大的分析工具，可提供有关材料表面化学组成和结构的详细资讯。其原理是利用全反射现象，使红外光在高折射率晶体（如钻石、锗）和样品之间多次反射，产生倏逝波（Evanescent Wave）穿透样品表面。
由于倏逝波的穿透深度非常浅，通常只有几微米 (µm)，因此 ATR-FTIR 光谱特别适合分析薄膜、涂层和材料的表面层。
ATR-FTIR光谱的优点
• 无需大量样品制备：由于 ATR 仅需检测样品的浅层区域，因此无需进行繁复的样品制备步骤，例如切片、研磨或溶解，这对于难以制备或破坏性样品分析非常有利。
• 分析异质样本：ATR 可以提供有关不同区域或层的局部资讯，因此非常适合分析具有不同组成或结构的异质样本。
• 高灵敏度：由于倏逝波与样品表面紧密相互作用，因此 ATR-FTIR 光谱可以获得高灵敏度的讯号，即使是痕量的表面成分也能被检测到。
ATR-FTIR光谱的限制
• 有限的穿透深度：ATR 的穿透深度非常浅，只有几个µm，因此对于位于样品内部较深处的成分，ATR 测量可能无法提供准确的资讯。
• 讯号强度受穿透深度影响：穿透深度越深，由于样品内的吸收和散射过程，红外讯号变得越弱，这可能会影响光谱的比较或定量分析。
结论
ATR-FTIR 光谱是一种功能强大的分析技术，可提供有关材料表面化学组成和结构的宝贵资讯。其浅采样深度和高灵敏度使其成为分析薄膜、涂层和异质样本的理想选择。然而，在使用 ATR-FTIR 光谱时，也需要注意有限的穿透深度可能带来的影响。