粒径分析仪测量重复性优越的原理
雷射粒径分析仪的重复性(reproducibility )是衡量粒径测量结果与仪器性能的重要指标。重复性是指同一个样品，在相同条件下，用同一台仪器，由同一个人在短时间内连续进行粒径测试，每次的测试结果与平均值之间的偏差。重复性高的测量结果，代表仪器的准确性高，也更可靠。使用雷射粒径分析仪测试样品粒径，必须遵照国际标准ISO13320：2009规定，雷射粒径分析仪测试重复性误差，由统计粒度分布累计出的三个粒度分布百分数 D10、D50、D90 的结果来描述，其容许误差，分别是5%、3%、5%。
样品的粒度分布分析
一部性能优越的粒径分析仪，必须从不同的方向来规划设计，来提高测量结果的重复性，以下列举一些主要因素：
分散
一般使用超音波预先分散样品 3~5分钟，同时加入分散剂并启动搅拌。若是超细样品超音波分散时间还要延长至10分钟。
介质
要选用不会让样品溶解或者膨胀的分散介质。介质通常是水或是乙醇。如果找不到合适的介质，则可以选择干式法进行粒径测试。
仪器软硬体：仪器的光源、信号传输系统、软体参数设定、资料处理方法、样品池洁净程度、对焦状态等因素，会对重复性产生影响，要确保仪器是良好的状态。
环境
湿度过大容易造成测试视窗结雾，另外仪器周围若有电磁干扰源、振动源，光源直射、仪器接地状态、电压稳定性等，都会影响仪器的重复性。
样品本身
样品的不稳定性(溶解、团聚)，也可能影响粒径测试的重复性。
遮光度
光源穿过样品后，被样品吸收的程度，以（I0 - Ii）/ I0 ×100% 来表示。I0 是光穿过纯净介质测得的强度，Ii 是光穿过介质混合样品的光强度。遮光度过大将加剧颗粒的多重散射现象，遮光度过小将影响样品的代表性，也会降低仪器的信噪比，这样都会影响重复性。
雷射粒径分析仪，样品遮光度的计算
沉淀
由于颗粒较大或较重，可能造成大颗粒沉积在管路中的现象，造成粒径越测越小现象产生，影响重复性。这种现象跟仪器整个管路、样品流动路径、效率的机构设计有关。
各家粒径分析仪制造商，无不各尽所能，加入更多的设计思维与方法，以机构件、电子件的创新设计，来改良以上影响分析准确度的主要因素，提高仪器的精密度。
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