白光反射光譜法簡介

白光反射光譜法（White Light Reflectance Spectroscopy, WLRS）是一種觀測寬帶光束 (可見光，可見光/近紅外光)，在塗佈待測物的基板 (Substrate) 表面反射後，因不同深度造成相位差，而產生的光譜干涉條紋。與典型反射干涉光譜法 (Reflectometric Interference Spectroscopy, RIfS) 的差異在於，WLRS 底部是用矽基板 (Si Substrate)，而不是透明基板，成本較傳統方式也更低。

基於上述理由，白光反射光譜法 WLRS 更適合當今主流的微電子處理 (Microelectronic Processes)相關應用，用來測量表面塗層、沈積層薄膜的厚度。如，微流體生物晶片，半導體、光電產業的相關製程的膜厚測量應用。而且，WLRS方法，可以在無須移動光學組件的狀況下，進行多層、多樣品的即時分析。更重要的是，測量的條件，不會因此增加儀器的複雜性與設置成本。

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無機聚合材料的熱性能分析

無機聚合材料，又稱為地質聚合物 (Geopolymer)，是一種新興的材料，它兼具無機物、陶瓷、水泥的特性，又是一種性能優異的新型凝膠材料 (鹼激發凝膠材料，Alkali-activated cementitious material)。它在抗壓能力、抗腐蝕性、耐久性的性能，都比一般波特蘭水泥還強。加上地質聚合物，可使用工業廢料 (如高溫爐渣、飛灰) 來製造，在當今環境意識抬頭的今天，無機聚合材料成為炙手可熱的研究對象，並可取代天然需要開採的水泥產品。

目前，無機聚合材料物常見的應用包括：

• 阻燃粘合劑
• 耐火、耐熱衝擊材料
• VLO飛機跑道
• 熱防護塗層

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